安徽电子测量技术起步于60年代中期，当时只能试制少量电子管式简易测量仪器，品种单一，技术水平仅相当于国外50年代以前的产品。 70年代开始，电子测量仪器的制造技术发生了变化，电子管逐步被半导体分立器件所代替，功能得到扩展，应用范围不断扩大。70年代末，电子测量技术逐步向集成化、数字化、多功能方向发展，并向国民经济各部门渗透。 进入80年代，通过引进国外先进技术，安徽电子测量技术逐步向高集成度、数字显示、多功能、高精度、自动化方向发展，研制成一批具有国际70年代末、80年代初水平的新型测量仪器，有的达到国际先进水平。 一、信号发生器与信号分析测量仪 〔信号发生器〕 1979年，阜阳无线电厂张兴国等研制出“XDJ1－A精密信号发生器”。该信号发生器的失真度和幅值稳定度的指标较好，基本上能满足当时国内在计量和测试中的需要，具国内先进水平。 1983年，合肥无线电三厂余文章等研制成“DC－5360型彩色同步锁相测试信号发生器”。它是彩色电视中心、视频传输系统、微波传输站、电视录象制作中心、地面卫星接收站等部门必备的标准信号设备。研制中研究人员对部分电路进行重新设计，实现了正负逻辑关系的转换，全部使用了国产器件；调制器和场同步锁定电路全部改用集成块；结构上采用印刷线路板，安装方便，减少差错，稳定可靠。 〔示波器〕 1983年，合肥无线电三厂梁益章等研制的“DC－5430型矢量示波器”，是视频传输系统及视频测试设备生产部门不可缺少的检测和监视设备。该仪器在元器件的选用、精密测相器及显示系统的研究设计上均立足于国内，整机的技术性能指标达到国内先进水平，其中相位测量等指标接近美国Tek 521A同类仪器水平。 〔波谱仪〕 1978年，中国科技大学聂登万等研制的“250M C超导核磁共振波谱仪（高频部分）”，采用了频率合成、锁相技术、双通道同步检测等新技术，具有高灵敏度、高分辨率、性能稳定等特点，并全部采用国产元件。经测试比较，该仪器在连续和分时两种工作体制下均达到法国同类波谱仪的水平。该波谱仪在有机化学、高分子化学及医药等领域有广泛的用途。 二、频率、时间和相位测量设备 〔频率、时间测量〕 1979年，中国科技大学尹可能等完成“综合时间频率校正系统”的研制。该系统包括接收标准时间信号，BPV 2校频，接收甚低频原子频率标准校频，电视比对校频，实现了多途径校频，从而保证了频率标准源的准确度和可靠性。它具有鉴定和测量10－10量级频率源的能力，可进行高精度晶体振荡器各种性能和指标的鉴定。利用该系统可接收国内原子时和世界时，随时可提供经修正后的标准时间，并可进行高精度的时间间隔测量，在时间与频率测量上具有较高水平。 1983年，合肥无线电一厂史保和等研制的“U Y 6型群时延测试仪”，能测量绝对时延、相对时延；既可进行本地测量，也可进行远端测量。仪器的性能稳定，使用方便，频率响应、时延特性、失真度等12项主要技术指标均达到规定要求；与日本同类机型M SIIA相比，灵敏度高5分贝，分辨率高4倍。 〔相位测量〕 1966年，国营第七六七厂毛印成等研制的“BX 24型宽频带微波相位计”，采用两通道自校准法，实现在1千兆赫～12．4千兆赫的宽频带范围内，对同轴和波导无源器件的相位进行精确测试，数字可以直读。测角范围0．5度～359．5度，分辨率为0．5度。该相位计填补了国内空白。 1978年，国营第七六七厂缪秋啸等研制的“BX 25型微波相位计”，采用两通道自校准法，实现了在12．4千兆赫～18千兆赫频段内，对同轴和波导无源器件的相位进行精确测试，读数用数字显示。测角范围0～359．5度，精度为±0．5度。该相位计填补了国内空白，技术在国内领先。 1979年，中国科技大学项志遴等研制的“位相差测试仪”，用于在远红外激光干涉法测量高温等离子体密度时，测量并显示两个中频电信号的瞬态位相差。仪器采用过零检测法检出两个信号的过零点，进而用时幅变化技术将位相差线性地转换成电压信号，并在示波器上显示。仪器结构简单，结果直观，尤其适合于在调试阶段使用。 三、功率与衰减测量仪器 〔功率测量〕 1979年，国营第七六七厂顾振刚等研制出“G 013型小功率量值传递装置”。它是应用功率方程法进行功率测量、量值传递的整套装置，广泛用于国内各大区域及部队的计量站及科研单位。 1985年，国营第七六七厂李平昌等研制出“GX 12M 1B型接口数字式功率计”。该仪器配有GD－IB标准接口，与计算机联机可实现自动功率测试，精度优于手动操作，已广泛用于国防科研和生产。 1986年，国营第七六七厂刘庆泰等研制成“GX 12M 30G型100瓦同轴热敏电阻功率座”。它可配接任一GX 12或GX 11系列功率指示器，在10兆赫至4．5千兆赫频率范围内，对连接的或经调制的微波功率进行精确测量，测量范围为10毫瓦至100瓦。该设备采用温度补偿技术，零点漂移小，可靠性高，过载能力强，响应速度快，特别适用于各中小电台、电视差转台、雷达等设备的功率测量。 〔衰减测量设备〕 1976年，国营第七六七厂古乐天等研制的“T 07型衰减校准装置”，采用了并联式中频替代法，用中频标准衰减器的变化量去替代测得微波衰减量。其工作频率1千兆赫～12．4千兆赫，测量范围0～100分贝，测量精度为0．1％／分贝。该装置广泛用于国防军工与科研计量、生产单位，达到VM－3同类产品水平，填补了国内空白。 1981年，国营第七六七厂盛申甫等研制出精密同轴衰减器等6种同轴元件：“TS 23M 1／M 2型精密同轴衰减器”用于时域测量、脉冲取样、扩展功率量程、控制功率电平及微波测量系统的去耦等方面；“TT 22M 1／M 2型同轴匹配负载”用于微波测试系统及测量线的终端，还可作为定向耦合器、功分器的参考负载使用；“TT 26M 1／M 2型同轴滑动负载”用于微波检测系统检定同轴测量线的剩余驻波等，并可作为高方向性同轴定向耦合器的参考负载；“TT 27M 1／M 2型固定同轴空气线”用于微波扫频测试系统的连接和移相补偿；“TT 28M 1／M 2型同轴短路器”用于微波测试的短路及全反射校准；“PJ7／L 16G 5－J、K型转接器”适用于微波系统的连接转换。这六种同轴元件的技术水平均在国内领先，具有良好的社会和经济效益。 1985年，国营第七六七厂古乐天等研制的“GH 3701型智能衰减校准装置”，采用微处理器作光栅测长的数据处理和伺服电机的驱动控制，实现在10兆赫～18000兆赫频段的微波网络衰减量的自动精密测量，为微波衰减参量的高精度、大动态计量提供了手段，是国内独创。该装置还能进行系统的平衡指零，可存储最近50次的结果供查阅和记录，并具有标准接口，在量程和精度上达到了80年代中期国际先进水平，主要技术指标与美国同类仪器rM－4A相当。 四、测量系统及其它测量仪器 〔波型监视器〕 1985年，合肥无线电三厂等单位刘观运等研制的“DC 5440型波型监视器”，采用了集成电路和高亮度双通道示波器。该仪器适用于电视台、地面卫星接收站、彩电生产线等视频系统的监视和测试，能精确测量系统的反射损耗、介入增益、线性及非线性失真等项技术参数。仪器具有场行高倍扩展、精密选场选行、波形叠加等功能，能在规定的插入测试行实现各种显示和测定。 〔网络分析仪〕 1981年，国营第七六七厂邹学良等研制的“HW 1型微波网络分析仪”，是微波扫频综合参量测试仪器。该分析仪采用了微带薄膜取样变频等一系列新技术，实现对单端口、双端口波导元器件的反射、传输参数的扫频／点频测试，具有表头幅／相指示、极坐标CRT显示、直角坐标CRT转换显示等功能。该仪器广泛用于国防、通讯及科研生产，技术水平在国内领先。 1983年，国营第七六七厂汪显尧等研制出“HW 1型同轴微波网络分析仪”。该仪器能完成宽频带S参数测量、有源器件S参数测量，以及同轴微波元器件的反射、传输特性分析。仪器的技术附加值高，经济效益好，广泛用于国防通信事业。 1985年，国营第七六七厂汪显尧等研制出“HW 1型智能微波网络分析仪”，这是在宽频带同轴网络分析仪的基础上，增加了智能处理单元和接口电路，利用单板机实现了微波散射量测量的全误差修正。仪器对于有源、无源被测件，扫频或点频情况都实用。在0．11千兆～0．124千兆频段，能迅速准确地获得微波网络的传输复参量和反射复参量。研制中建立了矢量网络分析仪的测量误差模型，成功地将理论应用于实践中。仪器实现了微量的高精度快速测量，测量精度达到美国HP 8409仪器水平，价格仅为美国同类产品的十五分之一。它已被广泛用于微波精密测量中。 1986年，电子工业部第四十一研究所陈增范等研制的“AV 3611自动标量网络分析仪”，是微波／射频频段测量传输特性、反射特性及绝对功率值的高度智能化仪器。仪器对整机、部件、元器件自动标量测试的结果，用全注释数字化方法显示，装有高速CPU、34KEPROM、12KROM，并采用计算机总线结构，带GPIB接口，可组成自动测试系统。该设备可完全替代进口的英国6500机。 1986年，电子工业部第四十一研究所李洪胜等研制出“AV 3621特征分析仪”（含AV 1691、1692、1693特征激励器）。该仪器由微处理器控制，采用先进的特征分析技术，将被测电路中某结点的复杂数据流压缩成简明易懂的4位特征码，通过与已知该结点的特征码比较，即可迅速准确地判断故障点，查出故障元件。仪器还兼有频率计、万用表等多种功能，是智能化产品的综合性调试和维修工具。 〔穆斯堡尔谱仪〕 1981年，中国科技大学夏耀民等完成“穆斯堡尔（M ossbauer）谱仪的研制”。仪器采用等加速驱动，电磁振动系统的磁路设计方案合理，磁隙磁场强度高，振子负荷轻（24克），确保谱仪在±10毫米／秒速度范围内，线性度优于1％；电子线路性能稳定，可长时间连续工作，做出的谱图质量良好；采用可做单谱和镜像双谱的同步方案，使用时可供任意选择。 〔电位器动态接触电阻测量仪〕 1986年，电子工业部第四十一研究所研制的“AV 2551型电位器动态接触电阻变化测量仪”，用于检测非线绕电位器旋转过程中动态接触电阻的变化值（CRV）。该仪器贯彻了国际电工学会IEC标准和美国军用M IL标准；采用集成电路，数字显示；其性能稳定，抗干扰性强，并有超限指示，各项参数优于国内外同类仪器。 |